SOC测试中的新技术--

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SOC测试中的新技术

http://www.any17.com 2006-08-30 14:56:15.0

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　　昵称为“老虎”的Catalyst T系列是一种单片系统（SOC）测试系统。该系统具有1024个数字引脚，数字数据率高达1.6Gb/s，具备各种高精度模拟测试能力。对于那些常用于数字存储、传输和处理应用如磁盘驱动器、网络交换、芯片组和PC图形应用的多引脚/高性能SOC，Catalyst T系列提供了对其进行测试所需要的高速测试灵活性。
　　ATE定时系统结构将高密度亚微米CMOS和IBM的SiGe混合信号能力结合在一起，该方法保证了DUT周期定时编程，其中，测试波形基于DUT的需要，而不限制在测试系统的矢量指令速率上。
　　通过将1024个数字通道集成到一个测试头上，Catalyst T系列提供了Internet交换机和PC应用中常用的高速、低电压数据链路所需要的1.25Gb/s（差分1.6Gb/s）的数据率。其灵活的波形能力利用实时的定时、波形和周期交换支持两种独立的时间域。
　　每块32通道的测试头卡都包括每引脚信号源（包括PMU）、引脚电路、模式存储器（高达128M×3位）和一个1.6Gb/s的定时系统。另外，每块卡还具备带有16M位故障捕获和384M位源/捕获/扫描存储器的存储器测试控制器。
　　T系列包括一种零时间FlexDSP结构，具备全差分模拟测试功能。以每秒150亿次操作工作的DSP能够实时执行采样率转换及滤波，具备15MHz的带宽和-120dB的失真。系统的选件包括用于DSL器件测试的LFAC1.2MHz源和数字化仪；用于100/1000Base-T网络测试应用的VHF 24002.4GS/s、10位任意波形发生器和VHF 1GHz数字化仪；以及用于超大吞吐量PLL生产测试的时间抖动分析仪。

并行测试结构

　　在IMAGE软件的支持下，Catalyst系列主要用于进行多点测试。有别于在每个仪器中放置一个本地DSP处理器的测试方法，Catalyst通过先对并行数据进行实时的捕获和传送，在第二个测试进程开始以后，再对先期数据集中进行后台处理，从而改进提高了测试速度。T系列有一个辅助模式发生器，把整个系统分成两个独立的部分，具有自己的数字时钟。每个32通道测试头卡可以独立地分配给两个测试模式发生器中的任何一个。
　　模拟仪器也可以分配给两个模式发生器并与其同步。对于异步和小数总线测试来说，使用这种双时钟系统编程更加容易实现。因此两个不相干的频率可以准确设置，而不用通过多个、基于时间集的解决方案。辅助模式发生器还支持并行单元测试，因此SOC器件的独立单元测试可同时进行。对多点测试而言，辅助模式发生器允许器件运行于全异步模式。
Catalyst T系列软件工具结合了制作前（pre-sili-con）仿真、测试程序发生器、器件特征描述等部分。 VX测试仿真软件还提供了测试环境的闭环仿真。
　　测试仪的DUT周期定时系统简化了CAE界面，允许程序员使用固有的器件项目来代替测试仪法形描绘语言。自动调试数字开发软件（最新版IM-AGE7.0）在维持不同调试工具紧密协调工作的同时，从不同角度监视可能发生的错误。各种详细的DUT和测试信息如引脚、电平、矢量、定时等在不同的工具中自动传输。Teradyne/IAgicVision的BIST控制工具控制内置的BIST电路，提供最终产品级的合格/失败测试以及详细的结构诊断信息。

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